EFB Elektronik Lauke montuojamas SC jungtis OM2 juoda

Gedimų šalinimas ar naujos optinės linijos įrengimas dažnai reikalauja greito ir patikimo pluošto galo paruošimo. Ši EFB Elektronik lauke montuojama SC jungtis, skirta OM2 daugiamodžiui pluoštui, leidžia atlikti terminaciją vietoje per mažiau nei 60 sekundžių, nenaudojant epoksidinės dervos ir poliravimo.

Privalumai profesionalui

• Iš anksto poliruota ferulė užtikrina mažus įterpimo nuostolius (≤ 0,3 dB) ir aukštą grįžimo nuostolių vertę (≥ 30 dB) – nereikia papildomo poliravimo.
• Greitas montavimas sumažina darbo sąnaudas ir leidžia efektyviai atlikti remonto ar montavimo darbus.
• Cirkonio keramikos ferulė ir aukštos kokybės plastikinis korpusas užtikrina ilgaamžiškumą ir atsparumą temperatūroms nuo -40 °C iki +85 °C.
• Atitinka IEC 61754-4 ir TIA/EIA-604-3 standartus, tinka naudoti LAN, duomenų centruose, FTTH ir pramoniniuose tinkluose.

Kam tinka

• Montuotojams, atliekantiems terminaciją vietoje – nereikia specialių įrankių, išskyrus pluošto skaldytuvą ir nuėmiklį.
• Duomenų centrų ir LAN tinklų administratoriams, kuriems reikia greito ir patikimo pluošto galo paruošimo.
• FTTH diegimo komandoms, kurioms svarbus mažas įterpimo nuostolis ir greitas montavimas.

Pagrindinės specifikacijos

• Jungties tipas: SC
• Pluošto tipas: Daugiamodis OM2
• Terminacijos būdas: Lauke montuojama, iš anksto poliruota
• Spalva: Juoda
• Įterpimo nuostoliai: ≤ 0,3 dB (tipiniai)
• Grįžimo nuostoliai: ≥ 30 dB (tipiniai)
• Ferulės medžiaga: Cirkonio keramika
• Korpuso medžiaga: Aukštos kokybės plastikas
• Darbinė temperatūra: -40 °C iki +85 °C
• Atsparumas jungimui: > 500 ciklų
• Atitiktis: RoHS, REACH
• Standartai: IEC 61754-4, TIA/EIA-604-3

Kaip naudoti

Nuimkite išorinį pluošto apvalkalą, švariai nuskaldykite pluoštą, įstatykite į jungtį ir užfiksuokite. Nereikia jokių specialių crimpavimo ar poliravimo įrankių.

Patarimas: naudokite aukštos kokybės pluošto skaldytuvą ir nuėmiklį, kad užtikrintumėte švarų skaldymą ir mažus nuostolius. Prieš montavimą patikrinkite pluošto galą peržiūros mikroskopu.